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「半导体专题讲座」芯片测试（Test）

4. 电气参数与过程参数的联动

半导体产品的测试种类繁多，不同的观点也有不同的解释方向。此外为了提高工艺效率和降低成本，还交换或混合封装级测试和晶片级测试项目，并相应地改变工艺。为了迎合这些综合因素，从产品设计到设备和工艺方法的产品开发战略不断更新。这是对整个半导体工艺、技术和客户产生巨大影响的过程。介绍的测试除了工艺和功能方面以外，还有肉眼测试和机械测试等，可根据需要进行调用，优化产品的良品化。关于半导体工艺这点你要知道 (6)薄膜沉积工艺。广东导电胶按需定制

「半导体工程」半导体？这点应该知道：（8）Wafer测试&打包工程

晶圆测试工艺的四个步骤

1)电气参数监测和老化测试（EPM&WFBI）

EPM(电气参数监测)是ElectricalParameterMonitoring的缩写，是通过测试半导体直接电路(IC)运动所需的各个元件的电气直流电压、电流特性的参数来确定其工作是否良好的过程。WFBI(老化测试）是WaferBurnIn的缩写，是对晶片施加一定温度的热量，然后施加AC/DC电压，找出潜在产品缺陷的过程。通过这两个步骤可以提高有效提高早期产品良率。

2)温度测试（Hot&ColdTest）

通过电气信号来判断晶片上的每个芯片是否有异常。有问题的芯片中可以修复的芯片存储信息，以便修复过程处理。为了确定在特定温度下发生的不良，所以在高温或低温下进行测试，。广东导电胶按需定制ICE lake U Based Memory Tester (DRAM Test MB)。

关于半导体工艺，这点你要知道：（2）氧化（Oxidation）工艺

3、除此之外，影响氧化膜生长速度的半导体尺寸越来越小，而氧化膜作为保护膜的作用是必要的，因此氧化膜的厚度是决定半导体尺寸的重要因素。因此，为了减小氧化膜的厚度，需要协调氧化过程中的各种变量。我们在第2节中讨论过的湿法氧化，干法氧化也是其中变量的一种种类，除此之外，晶片的晶体结构，Dummy Wafer（为了减少正面接触气体或稍后接触气体部分的氧化程度差异，可以利用Dummy Wafer作为晶片来调整气体的均匀度）、掺杂浓度、表面缺陷、压力、温度和时间等因素都可能影响氧化膜的厚度。

和我一起来了解一下氧化膜的作用，氧化膜是如何形成的，以及这些氧化膜的形成速度受哪些东西的影响。半导体八大工序中的两个工序已经完成；下节我们将讨论在半导体上制作电路图案的蚀刻工艺。

关于半导体工艺这点你要知道 (5)扩散(Diffusion) 工艺

4、扩散工艺中的两个重要条件还记得上一段时间蚀刻工艺中的主要因子——均匀度和蚀刻速度吗？ 就像所有半导体制造过程一样，扩散过程也必须是均匀的。因此，为了通过向硅中注入杂质来建立所需的集成电路（IC）模型，有两个关键因素。

1) Constant Source Diffusion恒定源扩散缩写为CSD，这意味着在扩散过程中硅表面的杂质浓度必须是恒定的。使用“dose”量来表示每单位面积的总杂质颗粒数，即浓度。

大体分为两种一种是pogo type和Rubber type。

「半导体工程」半导体？这点应该知道：（8）Wafer测试&打包工程

芯片封装过程

1)背面磨削（BackGrind）

FAB（晶圆代工厂/Foundry）制作的厚晶片背面，用钻石轮研磨成所需厚度的薄晶片，使其成为薄半导体的过程。

2)晶片切割（WaferSaw）

把由多个芯片组成的晶片分离成单个芯片。

3)芯片贴装（DieAttach）

芯片贴装，也称芯片粘贴，从晶片上取下分离的良品单个芯片，并将其粘合到封装基板上。

4)打线结合（WireBond）

将芯片焊接区电子封装外壳基板进行电气连接。

5)塑封（Mold）

用热硬化性树脂EMC包裹基板，防止潮湿、热量、物理冲击等。

6)Marking

用激光刻印产制造商信息，国家，器件代码等。

7)置球（SolderBallMount）

通过基板下表面安装锡球(SolderBall)，实现PCB和Package的电气连接，

8)SawSingulation

使用封装切割用的钻石轮将基板分离单独的产品。半导体在晶片状态下完成后不会直接封装，这会造成很大问题，因为在包装好的产品会参杂次品。佛山78FBGA-0.8P导电胶

深圳市革恩半导体有限公司为专业从事存储器件测试解决方案公司。广东导电胶按需定制

Burn-in Board（测试烧入机）测试仪器配件——探针

RollingPinandFingerPin此探针可解决一般探针的电性问题，提高接触寿命，以及减少沾锡状况所发生的电抗问题。革恩半导体使用的rollingpin不同于一般rollingpinsocket使用塑料制成，我们采用全金属制造，此做法可提供更电性及散热需求，以及大幅降低IC以及LoadBoard的刮伤。並且已有年多的实际应用。

革恩业务领域：

1. 测试设备

01. 基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器，并可根据客户需求进行固 件及软件调试

02. 基于MTK平台开发LPDDR、EMMC、UFS测试仪器，并可根据客户需求进行固件及软件调试现有P60、P90、G90、20M、21M平台测试仪器已开发完成及开发中03.高低温测试设备及量产设备

2. Burn-in Board(测试烧入机）测试仪器配件－导电胶、测试座子、探针广东导电胶按需定制

深圳市革恩半导体有限公司是一家革恩半导体业务领域：1. 测试设备01. 基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器，并可根据客户需求进行固 件及软件调试02. 基于MTK平台开发LPDDR、EMMC、UFS测试仪器，并可根据客户需求进行固件及软件调试现有P60、P90、G90、20M、21M平台测试仪器已开发完成及开发中03.高低温测试设备及量产设备2. Burn-in Board(测试烧入机）测试仪器配件－导电胶、测试座子、探针04.DDR测试、导电胶芯片测试、技术服务支持、支持研发服务的公司，是一家集研发、设计、生产和销售为一体的专业化公司。革恩半导体作为电子元器件的企业之一，为客户提供良好的芯片导电胶测试垫片，DDR测试、LPDDR测，内存测试仪器，内存颗粒内存条测试。革恩半导体致力于把技术上的创新展现成对用户产品上的贴心，为用户带来良好体验。革恩半导体创始人南星花，始终关注客户，创新科技，竭诚为客户提供良好的服务。

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