广东手提平板探测器

DR是射线数字成像检测的英文简称，工业领域也叫X射线探伤，现大部分采用数字平板。DR可以对缺陷进行定性分析。X射线对体积型缺陷比较敏感。在检测进行时，DR检测系统对工件表面要求不高，它是X射线穿透待检物后在平板探测器上接收经过检测物吸收后的光电子，再由计算机和图像软件处理得到明暗区分的图片，从而观测缺陷的种类和估算其大小，图像易于保存，所以可以用于定性和存档。X射线易于检测物体内部的气泡、缩孔、夹杂但难于确定深度方向的尺寸。AED是自动感应曝光技术，可以让平板探测器自动探测X射线，自动进入曝光窗口，把图像输出至计算机。广东手提平板探测器

平板探测器（FPD）的分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度，以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条称为线对，一对黑白相间的线条称为一个线对。分辨率的单位是线对/毫米（LP/mm）。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多，表示图像空间分辨率越高。空间分辨率的提高不是无限的，与探测器对X射线光子的检测灵敏度、动态范围、信噪比等有密切关系。实际成像中，影像分辨率的因素有很多：如X射线焦点、曝光时间、探测器感官灵敏度、计算机图像处理、显示器性能等。青岛DR成像平板探测器X射线具有高能量和短波长的特点，因此可以穿透大多数物质，包括金属、玻璃、木板等。

平板探测器（简称FPD）成像时会受到暗场飘移、响应不一致和坏点等因素影响，因此必须对平板探测器进行一下几种校正。1、暗场校正（OFFSETcorrection），就是在开启射线源进行检测工作时，为了正确反映出透照物体内部结构与图像灰度值之间的对应关系，去除叠加在实际输出响应上的暗场图像值。2、虽然在线性曝光剂量范围内，平板探测器的每个探测单元对X射线响应是线性的，但不同探测单元的X射线响应系数并不完全一致，即响应不一致性。它带来的后果是相同的入射射线强度，但输出不同。因此必须对平板探测器做增益校正（GAINcorrection）。3、平板探测器（FPD）使用过程中，元器件老化、辐射额碰撞损伤都会产生新的坏点，所以定期更新坏点位置图（坏像素校正））是十分重要的。

平板探测器（简称FPD）是一种半导体检测器，是数字化摄影的主要部件。目前平板探测器可分间接式的CsI（a-Si）（碘化铯，非晶硅）平板探测器和直接式的a—Se（非晶硒）平板探测器，其作用是将X线的光量子信号转换成数字信号。机房环境对平板探测器的影响很大，适当的温湿度是维持探测器正常运行的必要条件。首先要保持设备环境温度的恒定，不要将探测器置于30℃以上的环境中；其次要经常观察探测器内部温度的变化，确保其稳定性，通常床上探测器为（40±3）℃，壁装支架探测器为（38±3）℃。平板探测器如果置于温度过高的环境，可致信息读出错误，并可能损坏探测器。环境湿度高会降低元器件的绝缘性能；灰尘多会影响成像效果，并可能遮盖探测器冷却设备的入口，导致探测器散热不良。平板探测器是精密电子设备，在使用过程中会出现探测器矩阵的某一行或某一列的像素失效，在图像上表现为点状或细线状伪影，其原因是在电场作用下导体中的电子发生定向运动出现了空洞，丧失了原有的成像功能。平板探测器的定时校准可以将失效的像素屏蔽。像素尺寸是指相邻像素的中心距离。

使用Xray清点物料的优点：1、准确性。X射线计数器可以比其他的元件计数方法更准确，因为它们可以“看到“元件内部，并检测到任何使用其他方法可能看不到的隐藏元件。2、速度：X射线计数器可以比人更快地计数部件，这可以节省时间并提高制造过程的效率。3、非破坏性。X射线计数器不会损坏被计数的部件，因此它们可用于计数对处理敏感的部件或需要保存以便进一步测试的部件。4、多功能性。X射线计数器可用于计数各种部件，包括由不同材料制成的部件以及具有不同形状和尺寸的部件。5、易于使用。X射线计数器通常易于使用，不需要专门培训。它们可以由一个人操作，这可以减少制造过程中计算部件所需的人员数量。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本低。但是转换效率不如碘化铯涂层高。浙江静态平板探测器

DR平板探测器可分为两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器。广东手提平板探测器

高压发生器的主要作用是供给X射线管阴、阳两极直流高压和灯丝加热电压。其主要由电源电路、高压电路、灯丝电路、控制电路等组成。电源电路主要起到将电源与高压发生器其他电路隔离、给其他电路供电的作用。高压电路主要将交流低电压（220V/380V）升压至直流高电压（150kV），从而给X射线管供电。灯丝电路主要将低电压（220V/380V）降压至电压（12V），从而给灯丝供电，加热灯丝产生自由电子。控制电路主要用于控制高压发生器的输出电压、输出灯丝电流和加载时间，同时与其他X射线设备影像链部件通讯，保证曝光的准确性。广东手提平板探测器

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